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Alpha-SE 光谱型椭偏仪
α-SE是一款高性价比的光谱型椭偏仪。简约设计,理想的薄膜分析工具。计算机通过USB口控制仪器、数据采集。配置易用的数据分析软件  易于使用   带有高级选项的按钮式操作 软件
技术先进   基于旋转补偿专利技术 
高速测量   十秒内完成180个波长的测量及数据的拟合
功能强     提供厚度、光学常数、表面粗糙、界面层等  各种数据 应用范围   适用于各类可见光谱段薄膜的研究及日常工艺控制
 
主要技术参数:  
    
 光谱范围: 390nm 到 890nm (180 个波长)   
 入射角: 65°、70°、75° 或 90°   
 与计算机连接方式: USB 口 (1.1 或更高)   
 样品台高度自动调节   
  数据采集时间: 3  秒 (快速模式)  
10 秒. (标准模式)  
30 秒 (长时模式)  
ALPHA-SE资料

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