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V-VASE 光谱型椭偏仪
V-VASE是一款经典的自动可变角,单色仪分光的光谱椭偏仪。可应用于半导体、电介质、聚合物、金属、等各类薄膜的研究和分析。自动相位延迟技术保证了测量准确性,精湛的工艺保证了测试重复性。具有灵活多变测试功能的V-VASE可用于各类研究中。
 
测量参数:   
    反射光和折射光的椭偏测量;  
   透射光和反射光的强度测量  
   各相异性材料的椭偏测量和交叉偏振R/T测量;  
   退偏和散射测量;  
   穆勒矩阵测量。  

    主要技术参数  
   光谱范围:240-1100nm,   
   紫外扩展 193-240nm,   
   红外扩展1100-2500nm。   
   变角范围20-90度。
V-VASE资料

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