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VUV-VASE 光谱型椭偏仪
UVV-VASE是一款真空紫外椭偏仪,通常用来测量及研究薄膜的紫外光学特性,如光刻胶等。
主要技术参数  
光谱范围:140-1100nm
红外扩展1100-1700nm
变角范围20-90度
VUV-VASE资料

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电话: 021-64325073、64325169、64325170  传真: 021-64326125  E-mail: sales@gen-opt.com
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